正向压降随电流和温度等条件发生变化|二极管通常表现出方向相关的导电特性|本征半导体未经过有意引入杂质的掺杂

壳温与芯片内部结温之间通常存在差异。安全工作区约束器件可承受的电压电流组合。静电放电可能损伤敏感的半导体结构。反向恢复会增加开关瞬态的损耗和干扰。碳化硅器件适合部分高压高温功率应用。氮化镓器件能够支持部分高频功率变换。宽禁带材料并不自动消除散热设计需求。封装寄生电感会影响高速开关电压尖峰。

芯片制造需要精确控制杂质和微细结构。晶圆是集成电路制造使用的基础材料片。单个晶粒通常在切割后进行封装和测试。良率表示符合要求产品在生产中的比例。器件失效可能来自电应力或热应力损伤。数据手册参数需要对应规定的测试条件。典型参数不能替代最坏情况设计边界。半导体工程结合材料物理和微细制造技术。

半导体的导电能力可以通过掺杂等方式调节。本征半导体未经过有意引入杂质的掺杂。施主杂质能够增加部分半导体的自由电子。受主杂质有助于形成以空穴为主的导电。电子与空穴共同参与半导体中的电荷输运。结区电场会影响载流子穿越结面的行为。二极管通常表现出方向相关的导电特性。